GPS-RTK測(cè)圖時(shí)作業(yè)要求有PDOP值應(yīng)小于（）。

精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說(shuō)明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。

（）常采用獨(dú)立坐標(biāo)系統(tǒng)。

下列誤差中，（）是水準(zhǔn)測(cè)量的主要儀器誤差。

雙面水準(zhǔn)尺中，以下說(shuō)法正確的是（）。

下列（）不屬于隧道斷面測(cè)量的主要方法。

偽距測(cè)量缺點(diǎn)有時(shí)間不宜測(cè)準(zhǔn)和（）

利用偽距作空間交會(huì)來(lái)定位點(diǎn)位的方法稱為（）

精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測(cè)量高程時(shí)應(yīng)使用（）

衡量地形圖測(cè)量的技術(shù)指標(biāo)主要有地物點(diǎn)的（）、等高線插求點(diǎn)的高程中誤差、細(xì)部點(diǎn)的平面和高程中誤差以及地形點(diǎn)的最大點(diǎn)位間距。