A. 通用工藝
B. 專用工藝
C. 通用技術(shù)條件、委托書
D. 通用工藝和專用工藝
E. 以上全部
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A. 采用不同折射角度的探頭
B. 提高探測頻率
C. 修磨探測面寬度
D. 改善探測面粗糙度
A.對檢測的缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確的定位
B. 對檢測的缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確的定量
C.準(zhǔn)確判定焊縫根部反射波
D. 準(zhǔn)確判定結(jié)構(gòu)反射波和缺陷波
A. 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)
B. 檢測人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)
C. 連續(xù)工作4h以上或工作結(jié)束時(shí)
D. 以上都對
A. 水平線性≤2%
B. 垂直線性≤4%
C. 直探頭的遠(yuǎn)場分辨力不小于20dB
D. 儀器至少在顯示屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示
A. φ2×20－16dB
B. φ2×20－13dB
C. φ2×20－10dB
D. φ2×20－7dB
最新試題
用2.5MHz、Φ20mm直探頭探測厚為200mm的餅形鍛件，已知底波B1=80%，B2=35%，若不計(jì)底面反射損失，求該鍛件的材質(zhì)衰減系數(shù)為多少？
用5P10×12K2.5探頭，檢測板厚T = 20 mm 的鋼對接焊接接頭，掃描時(shí)基線按水平1：1調(diào)節(jié)，檢測時(shí)，水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個(gè)，試分別求這兩個(gè)缺陷的深度？
用CSK－IA 試塊測定斜探頭和儀器的分辨力,現(xiàn)測得臺階孔Ф50、Ф44 反射波等高時(shí)波峰高h(yuǎn)1=80% ,h2=25% ,求分辨力為多少？
用K2斜探頭檢測T = 28mm 的鋼板對接接頭 ，儀器按深度1：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線，這時(shí)衰減器讀數(shù)為34dB ， 試塊與工件耦合差為5dB ，（1） 如何調(diào)節(jié)評定線Ф1×6－9dB靈敏度？（2） 檢測中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，其波高達(dá)面板曲線時(shí)， 衰減器讀數(shù)為28dB，求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域？（按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)）
用K2探頭檢測板厚分別為30mm 、65mm的鋼板對接焊縫，試問按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測》 B級標(biāo)準(zhǔn)焊縫兩側(cè)的修磨寬度各為多少？
用2.5P20Z直探頭檢測厚350mm的鋼鍛件(CL=5900m/s ) ,如何用工件底波校準(zhǔn)檢測靈敏度（350/ф2）？
檢測板厚T=20mm的鋼板對接焊接接頭，上焊縫寬34mm，下焊縫寬25mm，選用K2探頭，前沿距離L0=16mm，用一、二次波法能否掃查到整個(gè)焊縫截面？是否能滿足要求？
用2.5P14Z探頭檢測某鍛件，發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB，另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2，檢測總面積為0.5米×0.5米，同時(shí)發(fā)現(xiàn)一單個(gè)缺陷，當(dāng)量為Φ4+10dB，試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評定此鍛件等級。
用2.5P20Z直探頭檢測厚500mm的餅形鋼鍛件(CL=5900m/s ) ，如何用工件底波調(diào)節(jié)檢測靈敏度（500/Ф2）
檢測板厚T = 24mm 的鋼板對接焊接接頭，上焊縫寬34mm ， 下焊縫寬26mm ，選用K2 探頭，前沿距離l0 = 16mm ，用一、二次波能掃查到整個(gè)焊縫截面？