A.對(duì)檢測(cè)的缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確的定位
B. 對(duì)檢測(cè)的缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確的定量
C.準(zhǔn)確判定焊縫根部反射波
D. 準(zhǔn)確判定結(jié)構(gòu)反射波和缺陷波
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A. 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)
B. 檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)
C. 連續(xù)工作4h以上或工作結(jié)束時(shí)
D. 以上都對(duì)
A. 水平線性≤2%
B. 垂直線性≤4%
C. 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力不小于20dB
D. 儀器至少在顯示屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示
A. φ2×20－16dB
B. φ2×20－13dB
C. φ2×20－10dB
D. φ2×20－7dB
A. GS-1
B. GS-2
C. GS-3
D. GS-4
A.探頭前沿短
B. 折射角大
C. 晶片面積小、
D. 以上同時(shí)考慮
最新試題
用K2斜探頭檢測(cè)T = 28mm 的鋼板對(duì)接接頭 ，儀器按深度1：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線，這時(shí)衰減器讀數(shù)為34dB ， 試塊與工件耦合差為5dB ，（1） 如何調(diào)節(jié)評(píng)定線Ф1×6－9dB靈敏度？（2） 檢測(cè)中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，其波高達(dá)面板曲線時(shí)， 衰減器讀數(shù)為28dB，求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域？（按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)）
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件（CL=5900m/s ） ，檢測(cè)靈敏度校準(zhǔn)（400/Ф2）后進(jìn)行檢測(cè)，發(fā)現(xiàn)在250mm處有一缺陷，缺陷波幅比基準(zhǔn)波幅高30dB，求此缺陷當(dāng)量？
用5P10×12K2.5探頭，檢測(cè)板厚T = 20 mm 的鋼對(duì)接焊接接頭，掃描時(shí)基線按水平1：1調(diào)節(jié)，檢測(cè)時(shí)，水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個(gè)，試分別求這兩個(gè)缺陷的深度？
對(duì)厚度40mm的鋼板用水浸二次重合法檢測(cè)，用鋼試塊按1 ： 2 調(diào)節(jié)儀器的掃描速度并校正“0”點(diǎn)，求： （1）水層厚度為多少？ （2）如鋼板中距上表面12mm深度處存在缺陷，則缺陷回波的水平刻度值應(yīng)為多少？ （3）示波屏上τf2= 50處出現(xiàn)缺陷回波，求缺陷距鋼板上表面的深度？
用2.5P14Z探頭檢測(cè)某鍛件，發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB，另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2，檢測(cè)總面積為0.5米×0.5米，同時(shí)發(fā)現(xiàn)一單個(gè)缺陷，當(dāng)量為Φ4+10dB，試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定此鍛件等級(jí)。
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚500mm的餅形鋼鍛件(CL=5900m/s ) ，如何用工件底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度（500/Ф2）
用2.5P20Z直探頭檢驗(yàn)厚度380mm的鋼鍛件（CL＝5900 m/s），材質(zhì)衰減系數(shù)α＝0.01 dB/mm。檢測(cè)中在130mm深發(fā)現(xiàn)一缺陷，其波幅較底波低7dB，求此缺陷當(dāng)量大?。?#8194;
對(duì)厚度60mm的鋼板進(jìn)行水浸檢測(cè)，已知水層厚度H = 30mm ，計(jì)算這是幾次重合法？
用2.5P14Z探頭探測(cè)某鍛件，發(fā)現(xiàn)在100mm深處有一個(gè)Φ6當(dāng)量平底孔缺陷，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)評(píng)幾級(jí)？
在厚度T=200mm的試塊上校準(zhǔn)縱波掃描速度，若B2對(duì)準(zhǔn)50 ， B4對(duì)準(zhǔn)100 。計(jì)算這時(shí)的掃描速度為多少？此時(shí)B1、B3分別對(duì)準(zhǔn)的水平刻度值為多少？