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A.探頭前沿短
B. 折射角大
C. 晶片面積小、
D. 以上同時考慮

A. CSK－ⅠA
B. T3型
C. CSK－ⅡA
D. T1型

A. CS1 型
B. CS2型
C. T2型
D. T1型

A. 直探頭、縱波斜探頭、橫波斜探頭
B. 雙晶探頭、縱波斜探頭、橫波斜探頭
C. 雙晶探頭、直探頭、縱波斜探頭、縱波雙晶斜探頭
D. 雙晶探頭、直探頭、橫波斜探頭

A. 直探頭在翼板外側上掃查檢測
B. 斜探頭在翼板外側掃查檢測
C. 直探頭在腹板上掃查檢測
D. 斜探頭在腹板上掃查檢測

A. 試塊法
B. 通用 AVG 曲線法
C. 底波計算法
D. 以上都可以

A. ф2平底孔
B. ф6平底孔
C. ф3平底孔
D. ф4平底孔

A. 在接管內表面用直探頭檢測
B. 在接管內表面用斜探頭檢測
C. 在容器外表面用斜探頭檢測
D. 以上一種或幾種方式組合應用

A. 縱波斜探頭
B. 縱波直探頭
C. 表面波探頭
D. 橫波斜探頭

A. 不合格的缺陷應予返修，返修部位及熱影響區(qū)仍按本標準進行檢測及質量等級評定
B. 最大反射波幅位于Ⅱ區(qū)的缺陷，根據(jù)其指示長度進行評定
C. 板厚不等的對接焊接接頭，缺陷等級評定時取薄板側厚度值
D. 最大反射波幅低于定量線的缺陷，均評為Ⅰ級