A.表面劑量增加
B.最大劑量深度變深
C.X射線污染增加
D.劑量梯度變陡
E.高能電子束較低能電子束變化顯著
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A.Sp(FSZ)=Scp/OUF=Scp/Sc
B.Sp(FSZ)=OUF/Scp=Sc/Scp
C.Sc=Scp/OUF=Scp/Sp
D.Sc=OUF/Scp=Sp/Scp
E.OUF=(Sc+Sp)/Scp
A.照射野越大,影響越大
B.電子束射程越短,影響越大
C.低能時(shí),影響較大
D.當(dāng)照射野的直徑大于電子束射程的1/2時(shí),影響較小
E.當(dāng)照射野的直徑大于電子束射程的2/3時(shí),影響較大
A.原射線的離軸比
B.射野的邊界因子
C.射野的對(duì)稱性
D.射野的平坦度
E.射野的均質(zhì)性
A.一維物理楔形板
B.動(dòng)態(tài)楔形板
C.多葉準(zhǔn)直器動(dòng)態(tài)掃描
D.多葉準(zhǔn)直器靜態(tài)掃描
E.筆形束電磁掃描
A.體積較大
B.對(duì)側(cè)向散射反應(yīng)不靈敏
C.受“熱效應(yīng)”影響大
D.易受環(huán)境及溫度影響
E.受照射野大小影響
最新試題
兩種不同深度處的百分深度劑量比值稱為射線質(zhì)指數(shù)或能量指數(shù)。
LET=()Kev/μm 是高低LET 射線的分界線。
電離室型劑量?jī)x在每次測(cè)量前必需對(duì)氣溫和氣壓進(jìn)行修正。
直線加速器使用的射野最大為()。
百分深度劑量受照射野面積的影響。
檢查燈光野與射野的一致性通常用膠片法。
質(zhì)子束的優(yōu)勢(shì)在于布拉格峰形百分深度劑量分布。
對(duì)鈷60機(jī)射野的對(duì)稱性和平坦度的檢查應(yīng)每月一次。
帶電粒子入射到物體時(shí),沒(méi)有確定的射程。
影響靶點(diǎn)位置精確度的因素包括機(jī)械精度,定位精度和擺位精度。