設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m，B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀，儀器高為1.43m，平距DAB=341.23m，觀測(cè)A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″，則由此算得B點(diǎn)的高程為（）

已知某線路JD的觀測(cè)右角大小為229°09ˊ25〞，那么該線路的轉(zhuǎn)向角為（）。

儀器及反光鏡的對(duì)中偏差均不應(yīng)大于（）。

RTK測(cè)量的基本工作流程中，在至少（）個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)（即點(diǎn)校正）。

下列（）不屬于隧道斷面測(cè)量的主要方法。

利用偽距作空間交會(huì)來定位點(diǎn)位的方法稱為（）

若依次采用元素法、主點(diǎn)法或交點(diǎn)法三種路線定義方法，那么路線定義的最終數(shù)據(jù)為最后采用（）的定義方法所得到的有效數(shù)據(jù)。

路線定義（主點(diǎn)法）曲線左偏時(shí)，半徑輸入為（）值。

光電測(cè)距中對(duì)向觀測(cè)的作用是減弱大氣折光、（）等對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。

精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。