A.測定探頭特性
B.確定不連續(xù)性尺寸及位置
C.評估材料的聲傳播特性
D.以上都是
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A.粗晶材料中散射信號(hào)與脈沖信號(hào)之比
B.人工反射體信號(hào)與雜波信號(hào)之比
C.儀器與探頭組合后引起的雜波信號(hào)與示波屏垂直刻度的滿幅度之比
D.以上都是
A.將電能轉(zhuǎn)換為機(jī)械能
B.將機(jī)械能轉(zhuǎn)換為電能
C.將機(jī)械能轉(zhuǎn)換成熱能
D.A和B
A.測試探傷儀的性能
B.幫助檢驗(yàn)者確定工件的材質(zhì)衰減
C.確定缺陷的準(zhǔn)確尺寸
D.以上都是
A.縱剖面圖象顯示
B.橫截面尺寸及位置顯示
C.距離-波幅顯示
D.立體圖形顯示
A.主聲束掃描不到的區(qū)域
B.近場區(qū)內(nèi)的距離
C.非擴(kuò)散區(qū)長度
D.被始脈沖寬度所覆蓋的距離
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
儀器水平線性影響（）。