A.1.25MHz
B.2.5MHz
C.5MHz
D.10MHz
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A.橫波質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向有利于缺陷反射
B.橫波檢測(cè)雜波小
C.橫波波長(zhǎng)短
D.橫波指向性好
A.反射波高隨粗糙度的增大而增加
B.無(wú)影響
C.反射波高隨粗糙度的增大而下降
D.以上A和C都可能
A.發(fā)現(xiàn)較小的缺陷
B.區(qū)分開相鄰的缺陷
C.改善聲束指向性
D.以上全部
A.較低頻率探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護(hù)膜探頭
D.以上都對(duì)
A.脈沖反射法
B.衍射時(shí)差法
C.穿透法和共振法
D.以上都是
最新試題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。