單項(xiàng)選擇題同直徑的平底孔在球面波聲場中距離增大一倍,則回波高度降低()。

A.6dB
B.12dB
C.3dB
D.9dB


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2.單項(xiàng)選擇題半擴(kuò)散角是晶片尺寸和聲波波長的函數(shù),它()。

A.隨頻率增加、晶片尺寸減小而減小
B.隨頻率或晶片尺寸減小而增大
C.隨頻率或晶片尺寸減小而減小
D.頻率增加、晶片尺寸減小而增大

3.單項(xiàng)選擇題下面有關(guān)半擴(kuò)散角的敘述,哪條是錯誤的?()

A.半擴(kuò)散角用第一零輻射角表示
B.半擴(kuò)散角用以表征波束的指向性
C.半擴(kuò)散角大小取決于晶片尺寸和聲波波長
D.超聲探頭的半擴(kuò)散角越小越好

4.單項(xiàng)選擇題在超聲探頭遠(yuǎn)場區(qū),()。

A.聲束邊緣聲壓最大
B.聲束軸線上聲壓最大
C.聲束邊緣和中心軸線聲壓一樣
D.聲壓與聲束寬度成正比

5.單項(xiàng)選擇題φ14mm、2.5MHz直探頭在鋼中的近場長為()

A.27mm
B.21mm
C.38mm
D.以上都不對

最新試題

()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

題型:單項(xiàng)選擇題

單探頭法容易檢出()。

題型:單項(xiàng)選擇題

靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。

題型:單項(xiàng)選擇題

()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。

題型:單項(xiàng)選擇題

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。

題型:單項(xiàng)選擇題

移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。

題型:單項(xiàng)選擇題

當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。

題型:單項(xiàng)選擇題