儀器水平線性影響（）。

利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。

靈敏度采用試塊調節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。

關于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。

測長法是根據測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質衰減不同時，需要進行傳輸修正。

利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。

當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。