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最新試題
空白(4)處應(yīng)選擇()
耦合度可以分成7個(gè)級(jí)別,從高到低依次為:內(nèi)容耦合、()、外部耦合、控制耦合、()、()、非直接耦合
測(cè)試的目的在于(),因?yàn)闇y(cè)試發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤和更正錯(cuò)誤的過(guò)程,而不能表明軟件程序的()。而且在軟件開發(fā)的過(guò)程中,每個(gè)不同的階段對(duì)于錯(cuò)誤的解決代價(jià)是不同的,在()發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤更正代價(jià)是相對(duì)較小的,等整個(gè)系統(tǒng)都完成了,再發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤其代價(jià)相對(duì)就比較大了。
空白(2)處應(yīng)選擇()
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軟件測(cè)試的目的是(),通??煞譃榘缀袦y(cè)試和黑盒測(cè)試。白盒測(cè)試是根據(jù)程序的()來(lái)設(shè)計(jì)測(cè)試用例,黑盒測(cè)試是根據(jù)軟件的規(guī)格說(shuō)明來(lái)設(shè)計(jì)測(cè)試用例。常用的黑盒測(cè)試方法邊值分析、等價(jià)類劃分、錯(cuò)誤猜測(cè)、因果圖等。軟件測(cè)試的步驟主要有單元測(cè)試、集成測(cè)試和確認(rèn)測(cè)試。如果一個(gè)軟件作為產(chǎn)品被許多客戶使用的話,在確認(rèn)測(cè)試的時(shí)候通常要通過(guò)α測(cè)試和β測(cè)試的過(guò)程。其中α測(cè)試是()進(jìn)行的一種測(cè)試。
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數(shù)據(jù)流圖有幾種基本符號(hào)?
空白(5)處應(yīng)選擇()