單項選擇題下列各項中不影響射線照片細節(jié)影像不清晰度的是()。
A、射線源尺寸
B、射線源到膠片距離
C、X射線能量
D、X射線強度
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1.單項選擇題曝光過程中,試樣或膠片偶然移動或使用焦距變?。ǎ?。
A、產(chǎn)生射線照相底片對比度低
B、不可能檢出大缺陷
C、產(chǎn)生射線照相底片不清晰
D、產(chǎn)生發(fā)灰的射線照片
2.單項選擇題未曝光膠片儲存的最佳濕度要求是()。
A、35%~-60%之間
B、60%~90%之間
C、50%~75%之間
D、50%~60%之間
3.單項選擇題膠片與鉛箔增感屏一起放在暗盒中的時間過長,又曾處在高溫或高濕環(huán)境中,膠片可能()。
A、產(chǎn)生白色斑點
B、出現(xiàn)樹枝狀的輕微條痕
C、發(fā)生灰霧
D、藥膜脫落
4.單項選擇題未曝光的X射線膠片盒保存時應(yīng)()。
A、平放
B、直立
C、堆放
D、任意放置
5.單項選擇題曝光過程中,與X射線膠片緊密接觸的鉛增感屏可提高底片黑度,其原因是()。
A、鉛增感屏?xí)a(chǎn)生可見光和熒光
B、鉛屏可吸收散射線
C、防止背散射造成膠片灰霧
D、鉛屏受X射線和γ射線照射會發(fā)生二次電子
最新試題
鋁合金電導(dǎo)率的渦流檢測中硬度檢驗是一種()方法。
題型:單項選擇題
當(dāng)波束不再與缺陷相遇,則回波()
題型:單項選擇題
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時,如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的()
題型:單項選擇題
采用以()為橫坐標,以平底孔直徑標注各當(dāng)量曲線作成實用AVG曲線。
題型:單項選擇題
對檢測儀的時間基線進行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
題型:單項選擇題
在聲束垂直試件表面時,所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
題型:單項選擇題
()件對不同類型的檢測對象和要求,采用的方式各有不同。
題型:單項選擇題
各類渦流檢測儀器的工作原理和()是相同的。
題型:單項選擇題
磁性測厚技術(shù)包括機械式和()兩種測量方法。
題型:單項選擇題
波束截面中心聲能(),隨著與中心的距離的增大,聲能()
題型:單項選擇題