A、θ＝57λ/D
B、θ＝57λ/b
C、θ＝57λ/a
D、B和C都對(duì)
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A、指向性
B、近場(chǎng)區(qū)
C、振速
D、入射
A、正壓電效應(yīng)
B、逆壓電效應(yīng)
C、壓電常數(shù)
D、介電常數(shù)
A、1/2波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)
B、1/2波長(zhǎng)的奇數(shù)倍時(shí)
C、1/4波長(zhǎng)的奇數(shù)倍時(shí)
D、1/4波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)
A、tp=1＋rp
B、R=rp2
C、D=1－rp2
D、以上都不對(duì)
A、（Z2－Z1）/（Z1＋Z2）
B、2Z2/（Z1＋Z2）
C、4Z1×Z2/（Z1＋Z2）2
D、[（Z2－Z1）/（Z1＋Z2）]2
最新試題
當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）
各類渦流檢測(cè)儀器的（）和結(jié)構(gòu)各不相同。
磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和（）兩種測(cè)量方法。
渦流檢測(cè)線圈的自感式線圈由（）構(gòu)成。
缺陷檢測(cè)即通常所說(shuō)的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
渦流探傷中平底盲孔缺陷對(duì)于管壁的（）具有較好的代表性，因此在在役管材的渦流檢測(cè)中較多采用。
無(wú)損探傷檢測(cè)采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長(zhǎng)范圍為（）mm，峰值波長(zhǎng)為365mm。
對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng)，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。
對(duì)于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進(jìn)行掃查。
鑄件超聲檢測(cè)的特點(diǎn)是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射，相應(yīng)的可檢缺陷尺寸（）