直讀光譜分析中，電極與試樣的距離對(duì)分析結(jié)果有影響。

選用ICP-AES分析鎳鐵中砷時(shí)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以不進(jìn)行背景校正。

X射線熒光光譜法玻璃熔片法測(cè)量爐渣時(shí)，可以使用純氧化物配比建立工作曲線。

碳硫分析儀器短期或長(zhǎng)期不使用時(shí)，應(yīng)間隔一段時(shí)間，開(kāi)一次機(jī)。

儀器結(jié)果保存時(shí)應(yīng)該分類(lèi)，并按照年月日依次保存，不能重復(fù)命名，便于上傳時(shí)和以后查找。

原子熒光中屏蔽氣的作用是阻止因外圍空氣進(jìn)入管中心而造成的熒光猝滅效應(yīng)。

ICPMS微波消解溶樣時(shí)開(kāi)啟微波消解罐時(shí)應(yīng)戴好手套和防護(hù)眼鏡。

原子吸收光度法，WM-2H型無(wú)油氣體壓縮機(jī)，表壓不在“0”為時(shí)，不得開(kāi)機(jī)。

直讀光譜分析的品種只能是鐵基的金屬塊狀樣品。

原子熒光儀中檢測(cè)器與激發(fā)光源呈直角是為了消除激發(fā)光源對(duì)檢測(cè)原子熒光信號(hào)的干擾。