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A.磁頭在不工作時(shí),是不會(huì)懸浮在盤片表面的
B.某個(gè)現(xiàn)代機(jī)械硬盤,工作時(shí)磁頭與盤片的距離為頭發(fā)直徑的千分之一
C.某個(gè)現(xiàn)代機(jī)械硬盤,工作時(shí)磁頭與盤片的距離為10~30微米
D.某個(gè)現(xiàn)代機(jī)械硬盤不工作時(shí),磁頭與盤片的距離略高
A.相同型號(hào)的硬盤,缺陷表可以相互替換
B.P-List損壞和G-List損壞相比,前者導(dǎo)致的數(shù)據(jù)問(wèn)題往往更嚴(yán)重
C.相同數(shù)量的缺陷扇區(qū)數(shù)存在于P-List或G-List,相對(duì)連續(xù)讀寫而言,P-List缺陷對(duì)性能的影響更小
D.一塊經(jīng)過(guò)工廠嚴(yán)格測(cè)試的硬盤,也可能有缺陷扇區(qū)
A.BIOS無(wú)法識(shí)別硬盤
B.BIOS里可以識(shí)別硬盤型號(hào),但無(wú)法識(shí)別容量
C.BIOS可以識(shí)別型號(hào),但容量變小
D.操作系統(tǒng)啟動(dòng)時(shí)提示用戶密碼錯(cuò)誤
A.3.5
B.2.5
C.3.0
D.1.8
A.MSATA
B.PCI-E
C.NGFF
D.M.2
最新試題
FAT32文件系統(tǒng)數(shù)據(jù)區(qū)的內(nèi)容包括()。
SCSI接口的優(yōu)點(diǎn)有()。
可以用來(lái)制作硬盤盤片的材質(zhì)有()。
關(guān)于缺陷表的說(shuō)法,正確的是()。
如果以Little-endian方式存儲(chǔ),在WinHex中讀取表現(xiàn)為56AB78EF,該值應(yīng)為()。
下列()是NTFS文件系統(tǒng)中DBR扇區(qū)上的結(jié)構(gòu)。
除了0號(hào)FAT項(xiàng)和1號(hào)FAT項(xiàng)以外,如果一個(gè)FAT項(xiàng)為非零值,那么可能是()。
SAS的數(shù)據(jù)接口和供電接口是()。
SATA的數(shù)據(jù)接口和供電接口是()。
下列()事務(wù)可以寫入NTFS的更新記錄。