設(shè)隨機(jī)變量Z的分布列為
X:135
P:0.40.50.1
則E(X)為（）。
A.1.1
B.2.4
C.1.6
D.1.0
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A.(0，a)
B.(a，b)
C.(0，b)
D.(0，0)
A.t分布的概率密度函數(shù)在整個(gè)軸上呈偏態(tài)分布
B.t分布的概率密度函數(shù)在正半軸上呈偏態(tài)分布
C.自由度為n-1的t分布概率密度函數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布N(0，1)的概率密度函數(shù)的圖形大致類似
D.自由度為n-1的t分布概率密度函數(shù)與二項(xiàng)分布b(n，p)的概率密度函數(shù)的圖形大致類似
A.2-2Ф(4)
B.1-Ф(4)
C.2Ф(4)
D.2Ф(4)-1
A.1．5
B.0.05
C.0.225
D.0.15
A.0.33
B.0.25
C.1．0
D.0.02
最新試題
六西格瑪管理中常用的度量指標(biāo)有（）。
設(shè)隨機(jī)變量Z的分布列為X:135P:0.40.50.1則E(X)為（）。
一個(gè)n=3的樣本觀測值8.5，10，11.5中樣本變異系數(shù)為（）。
一鑄件上的缺陷數(shù)X服從泊松分布，每鑄件上的平均缺陷數(shù)是0.5，則：一鑄件上僅有一個(gè)缺陷的概率為（）。
已知一批電阻的電阻值服從正態(tài)分布，
設(shè)隨機(jī)變量x服從二項(xiàng)分布b(10，0.9)，則其均值與標(biāo)準(zhǔn)差分別為（）。
設(shè)隨機(jī)變量2服從λ＝2的泊松分布，則P(X≤2)＝（）。
下面關(guān)于t分布的說法，正確的有（）。
假設(shè)檢驗(yàn)的基本步驟包括（）。
設(shè)X服從λ=2的泊松分布，則P(X≤1)約為（）。