A.縮小公差
B.減少偏離量
C.降低離散度
D.適當(dāng)加大公差
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A.分析過(guò)程是否處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)
B.分析產(chǎn)品的顧客滿意程度
C.分析過(guò)程的成本是否經(jīng)濟(jì)
D.分析過(guò)程能力指數(shù)是否滿足技術(shù)要求
A.電子技術(shù)
B.統(tǒng)計(jì)技術(shù)
C.科學(xué)計(jì)算
D.控制技術(shù)
A.Cp≤Cpk
B.Cpk≤Cp
C.Cp/Cpk=1-K
D.Cp/Cpk=1+K
A.由TQC小組決策如何改善
B.改善成本高
C.可以通過(guò)分析過(guò)程能力發(fā)現(xiàn)
D.只是偶然出現(xiàn)
E.稱為局部問(wèn)題
A.縮小公差
B.減少偏離量
C.降低離散度
D.適當(dāng)加大公差
A.37，27
B.32,25
C.28,24
D.42,40
A.過(guò)程能力指數(shù)越高，合格品率越高
B.過(guò)程能力指數(shù)越低，不合格品率越低
C.過(guò)程能力指數(shù)越高，合格品率越低
D.過(guò)程能力指數(shù)越低，合格品率越高
A.計(jì)量檢驗(yàn)
B.計(jì)件檢驗(yàn)
C.計(jì)點(diǎn)檢驗(yàn)
D.計(jì)數(shù)檢驗(yàn)
某種規(guī)格的軸，其直徑要求為φ18±0．2mm。長(zhǎng)期檢驗(yàn)結(jié)果表明，其直徑均值為μ=18．05，標(biāo)準(zhǔn)差A(yù)=0．05?；卮饐?wèn)題
該生產(chǎn)過(guò)程偏移系數(shù)k為（）。
A.0．5
B.0．25
C.1．0
D.O．4
A.高科技的發(fā)展可以保證產(chǎn)品質(zhì)量無(wú)波動(dòng)
B.產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)是客觀存在的
C.產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)是毫無(wú)規(guī)律的，無(wú)法控制的
D.產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)具有統(tǒng)計(jì)規(guī)律性，因而可以控制
E.產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)是人操作的原因
最新試題
兩個(gè)過(guò)程能力指數(shù)Cp與Cpk間的關(guān)系是（）
分析用控制圖，它主要是（）。
統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制(SPC)是應(yīng)用（）對(duì)過(guò)程中的各個(gè)階段進(jìn)行評(píng)估和監(jiān)控，建立和保持過(guò)程處于可接受的并且穩(wěn)定的水平，從而保證產(chǎn)品與服務(wù)符合規(guī)定要求的一種質(zhì)量管理技術(shù)。
由偶然原因造成的質(zhì)量變異（）。
控制圖的重要性體現(xiàn)在（）。
某種規(guī)格的軸，其直徑要求為φ18±0．2mm。長(zhǎng)期檢驗(yàn)結(jié)果表明，其直徑均值為μ=18．05，標(biāo)準(zhǔn)差A(yù)=0．05。回答問(wèn)題該生產(chǎn)過(guò)程偏移系數(shù)k為（）。
根據(jù)歷史數(shù)據(jù)繪制—R控制圖，子組大小等于5，經(jīng)計(jì)算：＝28，＝6．2,查表得A2=0．577,D4=2．114,從現(xiàn)場(chǎng)收集了一組數(shù)據(jù)為：38，29，32，21，26，則回答題：圖的上下控制限分別為（）。
分析用控制圖的主要作用是（）。
當(dāng)工序有偏離時(shí)，提高CpK的途徑不包括（）。
在過(guò)程控制中，提高產(chǎn)品合格率的措施有（）。