判斷題超聲相控陣的聲束角度調(diào)整可以通過(guò)調(diào)整晶片激發(fā)延時(shí)間隔來(lái)實(shí)現(xiàn)。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
最新試題
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題