A.縱波反射技術(shù)
B.透射技術(shù)
C.斜射橫波技術(shù)
D.以上都可以
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A.縱波反射技術(shù)
B.透射技術(shù)
C.斜射橫波技術(shù)
D.以上都可以
A.10.0MHz
B.5.0MHz
C.2.5MHz
D.以上都可以
A.雙晶探頭
B.延遲塊探頭
C.聚焦探頭
D.以上都可以
A.對于信噪比要求高的情況,選擇窄頻帶儀器
B.對于分辨力要求高的情況,選擇窄頻帶儀器
C.對于定量要求高的情況,選擇水平線性好的儀器
D.對于定位要求高的情況,選擇垂直線性好的儀器
A.對于分辨力要求高的情況,選擇窄頻帶儀器
B.對于衰減大的情況,選擇寬頻帶儀器
C.對于定位要求高的情況,選擇水平線性好的儀器
D.以上都正確
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
()是影響缺陷定量的因素。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。