A.檢查表技術(shù)
B.用戶立場(chǎng)分析術(shù)
C.場(chǎng)景分析技術(shù)
D.頭腦風(fēng)暴技術(shù)
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你可能感興趣的試題
A.可以接受
B.有條件接受
C.不能接受
D.未評(píng)審
A.尋找軟件錯(cuò)誤，便于修正。
B.從用戶的角度出發(fā)，驗(yàn)證軟件是否符合要求。
C.從開發(fā)角度出發(fā)，證明軟件實(shí)現(xiàn)了用戶的需求。
D.開發(fā)過(guò)程一般沒有測(cè)試模型一一對(duì)應(yīng)，無(wú)法指導(dǎo)軟件的開發(fā)過(guò)程。
A.需求分析是回答系統(tǒng)“做什么”的問(wèn)題。
B.軟件設(shè)計(jì)是回答系統(tǒng)“具體做”的問(wèn)題。
C.軟件編碼是回答系統(tǒng)“做和改”的問(wèn)題。
D.軟件測(cè)試是回答系統(tǒng)“做什么”的問(wèn)題。
A.功能錯(cuò)誤
B.代碼路徑中的錯(cuò)誤
C.邏輯錯(cuò)誤
D.死循環(huán)
A.弱覆蓋
B.條件組合覆蓋
C.語(yǔ)句覆蓋
D.全覆蓋
最新試題
下列測(cè)試方法中，對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是（）
敏捷開發(fā)模型不適用于大型開發(fā)項(xiàng)目。
測(cè)試優(yōu)先級(jí)中，用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)，其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。
在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。
下列白盒測(cè)試方法的測(cè)試方法中，哪一個(gè)方法能發(fā)現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤，但是不能發(fā)現(xiàn)條件錯(cuò)誤？（）
白盒測(cè)試作為一種基本測(cè)試方法，應(yīng)用廣泛，但（）不屬于該類方法。
等價(jià)類劃分法使用步驟描述錯(cuò)誤的是（）
從一般意義看，測(cè)試結(jié)束的標(biāo)準(zhǔn)定義錯(cuò)誤的是（）
代碼審查：是以審查小組運(yùn)行測(cè)試用例的形式進(jìn)行審查。
下面對(duì)于開發(fā)過(guò)程描述正確的是（）