A.中子產(chǎn)額2.2×106n/s/Ci
B.是純凈的中子源,不產(chǎn)生其他射線
C.半衰期431年
D.中子能量平均值達(dá)到MeV量級
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A.吸收部分產(chǎn)生的中子
B.產(chǎn)生α粒子
C.與γ射線反應(yīng)產(chǎn)生中子
D.與α射線反應(yīng)產(chǎn)生中子
A.(β,n)型中子源
B.(α,n)型中子源
C.(γ,n)型中子源
D.自發(fā)裂變中子源
A.熱中子
B.冷中子
C.甚冷中子
D.超冷中子
A.軔致輻射計數(shù)集中在低能區(qū)
B.軔致輻射的來源其實是β射線
C.軔致輻射可以被理想屏蔽所去除
D.當(dāng)β射線強度大,能量高,而γ射線強度低時,軔致輻射影響更顯著
A.超出了最大能量,是系統(tǒng)弄錯了,應(yīng)該把這些計數(shù)去掉
B.可能同時發(fā)生了兩個能量完全沉積的事件,系統(tǒng)把這兩個10keV的計數(shù)合成為了一個20keV的計數(shù)
C.這個峰大部分計數(shù)的來源應(yīng)該是環(huán)境的射線影響
D.降低γ射線強度,這個峰的計數(shù)應(yīng)該會升高
A.反符合技術(shù)可以用于甄別康普頓事件
B.反散射峰與特征X射線峰來自于環(huán)境
C.全能峰就是光電峰
D.單逃逸峰的能量大于雙逃逸峰
A.符合測量對真偶符合比沒有要求
B.為保證高的真偶符合比,電子學(xué)分辨時間小一些好
C.真偶符合比必定是大于1的
D.其他條件不變,源的活度越大則真偶符合比越大
A.偶然符合在低計數(shù)率情況下更常見
B.偶然符合的事件同時發(fā)生且相關(guān)
C.偶然的情況下同時到達(dá)符合電路的非關(guān)聯(lián)事件引起的符合
D.不相關(guān)的事件都可以認(rèn)為屬于偶然符合
A.符合曲線是指延遲關(guān)系變化時,符合計數(shù)率的變化曲線
B.信號的時間離散對符合曲線有影響
C.理想的電子學(xué)瞬時符合曲線是矩形的
D.符合分快符合與慢符合,快符合的符合曲線寬度主要由電子學(xué)分辨時間決定
A.延遲符合改變了相關(guān)事件發(fā)生的物理過程
B.延遲符合的順利實現(xiàn)需要對相關(guān)事件的物理過程有深入了解
C.延遲符合功能可以通過電子學(xué)系統(tǒng)實現(xiàn)的
D.相關(guān)事件不同時時,一般可以考慮利用延遲符合技術(shù)
最新試題
測量β射線的活度,下列說法錯誤的是()。
測量厚樣品α源,下列說法正確的是()。
下列哪項不屬于中子探測方法?()
改變下列哪項不會對活度探測產(chǎn)生明顯影響?()
幾何因素對探測器測量活度的影響描述正確的是()。
關(guān)于自發(fā)裂變中子源的描述正確的是()。
下列關(guān)于符合曲線描述錯誤的是()。
測量能量10keV的γ射線,觀察到了在20keV處有一個明顯的峰,對于這些計數(shù)的分析正確的是()。
下列關(guān)于真符合的描述錯誤的是()。
常見的241Am-9Be中子源中,9Be的作用是()。