A.近表面深度測(cè)量,時(shí)間上一個(gè)很小的誤差會(huì)給深度帶來(lái)很大的誤差
B.近表面深度測(cè)量,深度上一個(gè)很小的誤差會(huì)給時(shí)間帶來(lái)很大的誤差
C.減小探頭中心間距可以改善近表面區(qū)域的分辨力
D.增加探頭頻率可以改善近表面區(qū)域的分辨力
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A.近表面深度分辨力不高
B.近表面信號(hào)淹沒(méi)在直通波內(nèi)導(dǎo)致漏檢
C.在進(jìn)行非平行掃查時(shí)底面存在盲區(qū)
D.在進(jìn)行平行掃查是底面存在盲區(qū)
A.1mm
B.0.1mm
C.0.01mm
D.無(wú)法給出數(shù)值
A.試塊上反射體的尺寸誤差對(duì)檢測(cè)結(jié)果影響不大
B.平底孔和橫孔均可用于TOFD波幅校準(zhǔn)
C.校準(zhǔn)衍射波幅的窄槽寬度不宜大于波長(zhǎng)的四分之一
D.校準(zhǔn)衍射波幅的窄槽槽底部要有尖角,角度為60°
A.回波頻率變化是由介質(zhì)對(duì)不同頻率超聲波衰減不同而引起的
B.對(duì)于金屬材料介質(zhì),衰減的主要原因是散射
C.由于高頻部分衰減大,低頻部分衰減小,回波信號(hào)中心頻率下降
D.衰減造成各頻率分量聲壓的下降,但回波信號(hào)的中心頻率沒(méi)有改變
A.寬帶探頭波束中包含各種不同頻率分量
B.高頻分量分布在波束中心的附近
C.低頻分量分布在波束的邊緣
D.用儀器測(cè)量周期時(shí)間計(jì)算得到的直通波頻率,實(shí)際上是回波頻率而不是探頭發(fā)出的信號(hào)頻率
最新試題
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái),最主要的是決定于()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
在工作中超聲波檢測(cè)儀屏幕上可能會(huì)出現(xiàn)()等信號(hào)波,需要仔細(xì)判別。
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
超聲波探頭上標(biāo)稱(chēng)的頻率是()