A.試塊上反射體的尺寸誤差對(duì)檢測(cè)結(jié)果影響不大
B.平底孔和橫孔均可用于TOFD波幅校準(zhǔn)
C.校準(zhǔn)衍射波幅的窄槽寬度不宜大于波長(zhǎng)的四分之一
D.校準(zhǔn)衍射波幅的窄槽槽底部要有尖角,角度為60°
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A.回波頻率變化是由介質(zhì)對(duì)不同頻率超聲波衰減不同而引起的
B.對(duì)于金屬材料介質(zhì),衰減的主要原因是散射
C.由于高頻部分衰減大,低頻部分衰減小,回波信號(hào)中心頻率下降
D.衰減造成各頻率分量聲壓的下降,但回波信號(hào)的中心頻率沒有改變
A.寬帶探頭波束中包含各種不同頻率分量
B.高頻分量分布在波束中心的附近
C.低頻分量分布在波束的邊緣
D.用儀器測(cè)量周期時(shí)間計(jì)算得到的直通波頻率,實(shí)際上是回波頻率而不是探頭發(fā)出的信號(hào)頻率
A.窄帶寬
B.中帶寬
C.寬帶寬
D.帶寬與粗晶材料檢測(cè)特性無關(guān)
A.提高帶寬有利于縱向分辨力的提高,但將使靈敏度損失
B.壓電復(fù)合材料不須采用背阻尼來提高帶寬
C.TOFD探頭的帶寬一般指-6dB帶寬
D.一般規(guī)定帶寬在76-110%范圍的探頭為寬帶探頭
A.可加工形狀復(fù)雜的探頭
B.聲速、聲阻抗等參數(shù)易于改變
C.在較大溫度范圍內(nèi)特性穩(wěn)定
D.價(jià)格低
最新試題
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()