A.工件中有大面積傾斜缺陷
B.工件材料晶粒粗大
C.工件中有密集缺陷
D.以上全部
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A.與探測面平行的大平底面
B.R200的凹圓柱底面
C.R200的凹球底面
D.R200的凸圓柱底面
A.單斜探頭法
B.單直探頭法
C.雙斜探頭前后串列法
D.分割式雙直探頭法
A.波長的一半
B.一個波長
C.四分之一波長
D.若干個波長
A.聲阻抗小且粘度大的耦合劑
B.聲阻抗小且粘度小的耦合劑
C.聲阻抗大且粘度大的耦合劑
D.以上都不是
A.被檢工件厚度太大
B.工件底面與探測面不平行
C.耦合劑有較大聲能損耗
D.工件與試塊材質(zhì),表面光潔度有差異
最新試題
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度,即()。