A.Q降低,靈敏度提高
B.Q值增大,分辨力提高
C.Q值增大,盲區(qū)增大
D.Q值降低,分辨力提高
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A.儀器分辨力提高
B.儀器分辨力降低,但超聲強(qiáng)度增大
C.聲波穿透力降低
D.對試驗(yàn)無影響
A.掃描長度
B.掃描速度
C.單位時間內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)
D.鋸齒波電壓幅度
A.74dB
B.66dB
C.60dB
D.80dB
A.發(fā)射電路在單位時間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)
B.掃描電路每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)
C.探頭晶片在單位時間內(nèi)向工件重復(fù)輻射超聲波次數(shù)
D.以上全部都是
A.1―2個
B.數(shù)十個到數(shù)千個
C.與工作頻率有同
D.以上都不對
最新試題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯誤的是()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
單探頭法容易檢出()。