A.掃描長度
B.掃描速度
C.單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)
D.鋸齒波電壓幅度
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A.74dB
B.66dB
C.60dB
D.80dB
A.發(fā)射電路在單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)
B.掃描電路每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)
C.探頭晶片在單位時(shí)間內(nèi)向工件重復(fù)輻射超聲波次數(shù)
D.以上全部都是
A.1―2個(gè)
B.數(shù)十個(gè)到數(shù)千個(gè)
C.與工作頻率有同
D.以上都不對
A.靈敏度范圍
B.線性范圍
C.分辨力范圍
D.選擇性范圍
A.缺陷的性質(zhì)和大小
B.缺陷的形狀和取向
C.缺陷回波的大小和超聲傳播的時(shí)間
D.以上都是
最新試題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
單探頭法容易檢出()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。