A.介質(zhì)對(duì)超聲波的吸引
B.介質(zhì)對(duì)超聲波的散射
C.聲束擴(kuò)散
D.以上全部
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、14.7°~27.7°
B、62.3°~75.3°
C、27.2°~56.7°
D、不受限制
A、1.45mm
B、0.20mm
C、0.7375mm
D、0.24mm
A、在工件中得到純橫波
B、得到良好的聲束指向性
C、實(shí)現(xiàn)聲束聚焦
D、減少近場(chǎng)區(qū)的影響
A、大于第二臨界角
B、大于第一臨界角
C.在第一、第二臨界角之間
D.小于第二臨界角
A、約48º
B、約24º
C、39º
D、以上都不對(duì)
最新試題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
儀器水平線性影響()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。