A、反射波波型
B、入射角度
C、界面兩側(cè)的聲阻抗
D、以上都是
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A、R+T=1
B、T=1-R
C、R=1-T
D、以上全部
A、T=r2
B、T=1-r2
C、T=1+r
D、T=1-r
A、縱波
B、橫波
C、表面波
D、切變波
A、與界面二邊材料的聲速有關(guān)
B、與界面二邊材料的密度有關(guān)
C、與界面二邊材料的聲速有關(guān)
D、與入射聲波波型有關(guān)
A、透射能量大于入射能量
B、反射超聲波振動相位與入射聲波互成180º
C、超聲波無法透入水中
D、以上都不對
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
利用底波計算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時,適用的工件厚度為()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
單探頭法容易檢出()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進(jìn)行傳輸修正。
儀器水平線性影響()。