垂直法探傷時(shí)，對(duì)要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查，局部法掃查一般分為（）。

超聲波探傷探頭的型式一般有（）等。

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對(duì)探傷有利。

由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測(cè)面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個(gè)面，甚至只有一個(gè)可探測(cè)面。

60kg/m與75kg/m軌頭寬度極限偏差為（）

探傷中對(duì)工件材料的（）有一定的要求。

探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對(duì)受檢工件的（）做好記錄。

探傷工技師對(duì)設(shè)備調(diào)整中的（）的相關(guān)知識(shí)應(yīng)了解。

通用儀器對(duì)焊補(bǔ)層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對(duì)靈敏度，以最大回波顯示的刻度來確定（）。

焊縫探傷中斜探頭K值的選擇原則是（）。