探傷中采用軌頭側(cè)面校對法，它主要適用于（）的校對。

探傷中對工件材料的（）有一定的要求。

探傷工藝流程中探傷技術(shù)規(guī)范主要指的是（）

在超聲波探傷中當工件聲衰減很小、試件的厚度較大時，如果重復(fù)頻率過高，儀器可能會產(chǎn)生（）

使用雙探頭掃查時，如盲目改變掃查方向，將會導(dǎo)致（）。

耦合劑應(yīng)選擇容易附著在試件的表面上，有足夠的浸潤性以排除（）之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。

在橫波探傷中，探頭K值對探傷（）有較大的影響。

探傷工技師對設(shè)備調(diào)整中的（）的相關(guān)知識應(yīng)了解。

由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個面，甚至只有一個可探測面。

為了提高探傷結(jié)果的可靠性，探傷前應(yīng)對被檢工件的（）和形成規(guī)律以及受檢部位的受力方向等進行調(diào)查。