單項(xiàng)選擇題用標(biāo)準(zhǔn)來(lái)校正儀器或裝置的過(guò)程稱為：（）

A、角度調(diào)整； 
B、掃描； 
C、距離-幅度變化修正； 
D、標(biāo)定。


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2.單項(xiàng)選擇題利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。

A.可不考慮檢測(cè)耦合差補(bǔ)償
B.適用于檢測(cè)的聲程小于等于3N
C.可不使用試塊
D.缺陷定量可采用計(jì)算法或AVG曲線法

3.單項(xiàng)選擇題儀器水平線性影響（）。

A.缺陷定位的準(zhǔn)確度
B.缺陷測(cè)長(zhǎng)的準(zhǔn)確度
C.缺陷測(cè)高的準(zhǔn)確度
D.缺陷定量的準(zhǔn)確度

6.單項(xiàng)選擇題超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。

A.與儀器和探頭的性能相關(guān)
B.隨頻率的提高而提高
C.隨分辨率的提高而提高
D.與換能器的機(jī)械阻尼無(wú)關(guān)

8.單項(xiàng)選擇題調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。

A.一次反射波和始波
B.三次不同的反射波
C.二次反射波和始波
D.二次不同的反射波

10.單項(xiàng)選擇題（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

A.當(dāng)量法
B.測(cè)長(zhǎng)法
C.半波高度法
D.絕對(duì)靈敏度法

最新試題

檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

儀器水平線性影響（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題