你可能感興趣的試題

單項(xiàng)選擇題
任何一種超聲波探傷方法中，正確地解釋和評(píng)價(jià)缺陷回波都是很重要的，通常使用的評(píng)價(jià)缺陷尺寸的方法有：（）
A、雙探頭檢測(cè)法
B、標(biāo)準(zhǔn)壓電元件法
C、波型轉(zhuǎn)換法
D、試塊對(duì)比法
單項(xiàng)選擇題
用折射角為45°的斜探頭探測(cè)鋼板中離探測(cè)面距離為50mm的缺陷，它的回波前沿應(yīng)顯示于測(cè)距標(biāo)尺滿刻度100mm聲程的下列刻度上：（）
A、5上
B、7上
C、3.5上
D、10
單項(xiàng)選擇題
儀器測(cè)距標(biāo)尺滿刻度校準(zhǔn)為150mm聲程后，用折射角為45°的斜探頭探測(cè)100mm厚鋼板，發(fā)現(xiàn)一缺陷回波前沿顯示于刻度8上，則該缺陷離探測(cè)面的距離和它在探測(cè)面上投影點(diǎn)至探頭入射的距離分別是：（））
A、120和60mm
B、85和85mm
C、60和120mm
D、85和42.5mm
單項(xiàng)選擇題
儀器測(cè)距標(biāo)尺滿刻度已校準(zhǔn)為200mm（鋼），如缺陷回波前沿顯示于刻度3.5上，則該缺陷的深度為：（）
A、35mm
B、70mm
C、47.5mm
D、65mm
單項(xiàng)選擇題
為了測(cè)定缺陷深度，必須校正儀器測(cè)距，當(dāng)示波屏上水平刻度標(biāo)尺滿刻度（10）代表深度距離200mm鋼時(shí)，則厚度為50mm的鋼板的第一次和第二次底面回波前沿應(yīng)對(duì)準(zhǔn)刻度：（）
A、3和6上
B、2.5和5上
C、2和4上
D、5和10上
單項(xiàng)選擇題
水浸法探傷時(shí)，為了將水層距離移到示波屏外，以增大工件顯示范圍，此時(shí)可調(diào)節(jié)儀器上的：（）
A、抑制開(kāi)關(guān)
B、衰減器
C、掃描延遲控制
D、測(cè)距深度粗調(diào)和細(xì)調(diào)開(kāi)關(guān)
單項(xiàng)選擇題
接近探測(cè)面并與其平行的缺陷，用下列哪種探頭檢出效果最佳：（）
A、聯(lián)合雙探頭
B、普通直探頭
C、表面波探頭
D、橫波斜探頭
單項(xiàng)選擇題
進(jìn)行表面波探傷時(shí)，如有信號(hào)顯示，則表明：（）
A、有表面缺陷
B、表面有油污
C、表面有積垢
D、沒(méi)有任何東西
單項(xiàng)選擇題
水中的縱波聲速約為鋼或鋁中縱波聲速的四之一，因此水浸法垂直探傷的水層距離最小應(yīng)為：（）
A、試件厚度的四倍
B、試件厚度的0.5倍
C、試件厚度的1/4加上6mm
D、試件厚度的1/4
單項(xiàng)選擇題
水浸探傷中，當(dāng)探頭垂直探測(cè)面時(shí)，則：（）
A、界面回波幅度最大
B、水層多次回波消失
C、波長(zhǎng)適當(dāng)
D、始脈沖幅度最大

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對(duì)一個(gè)缺陷回波用對(duì)比試塊中的平底孔作高度比較，其中一個(gè)試塊的深度與缺陷深度相同，直徑為4mm的平底孔回波高度等于缺陷回波，則缺陷當(dāng)量的大小相當(dāng)于：（）

你可能感興趣的試題

任何一種超聲波探傷方法中，正確地解釋和評(píng)價(jià)缺陷回波都是很重要的，通常使用的評(píng)價(jià)缺陷尺寸的方法有：（）

用折射角為45°的斜探頭探測(cè)鋼板中離探測(cè)面距離為50mm的缺陷，它的回波前沿應(yīng)顯示于測(cè)距標(biāo)尺滿刻度100mm聲程的下列刻度上：（）

儀器測(cè)距標(biāo)尺滿刻度已校準(zhǔn)為200mm（鋼），如缺陷回波前沿顯示于刻度3.5上，則該缺陷的深度為：（）

為了測(cè)定缺陷深度，必須校正儀器測(cè)距，當(dāng)示波屏上水平刻度標(biāo)尺滿刻度（10）代表深度距離200mm鋼時(shí)，則厚度為50mm的鋼板的第一次和第二次底面回波前沿應(yīng)對(duì)準(zhǔn)刻度：（）

水浸法探傷時(shí)，為了將水層距離移到示波屏外，以增大工件顯示范圍，此時(shí)可調(diào)節(jié)儀器上的：（）

接近探測(cè)面并與其平行的缺陷，用下列哪種探頭檢出效果最佳：（）

進(jìn)行表面波探傷時(shí)，如有信號(hào)顯示，則表明：（）

水中的縱波聲速約為鋼或鋁中縱波聲速的四之一，因此水浸法垂直探傷的水層距離最小應(yīng)為：（）

水浸探傷中，當(dāng)探頭垂直探測(cè)面時(shí)，則：（）

對(duì)一個(gè)缺陷回波用對(duì)比試塊中的平底孔作高度比較，其中一個(gè)試塊的深度與缺陷深度相同，直徑為4mm的平底孔回波高度等于缺陷回波，則缺陷當(dāng)量的大小相當(dāng)于：（）

你可能感興趣的試題

任何一種超聲波探傷方法中，正確地解釋和評(píng)價(jià)缺陷回波都是很重要的，通常使用的評(píng)價(jià)缺陷尺寸的方法有：（）

用折射角為45°的斜探頭探測(cè)鋼板中離探測(cè)面距離為50mm的缺陷，它的回波前沿應(yīng)顯示于測(cè)距標(biāo)尺滿刻度100mm聲程的下列刻度上：（）

儀器測(cè)距標(biāo)尺滿刻度已校準(zhǔn)為200mm（鋼），如缺陷回波前沿顯示于刻度3.5上，則該缺陷的深度為：（）

為了測(cè)定缺陷深度，必須校正儀器測(cè)距，當(dāng)示波屏上水平刻度標(biāo)尺滿刻度（10）代表深度距離200mm鋼時(shí)，則厚度為50mm的鋼板的第一次和第二次底面回波前沿應(yīng)對(duì)準(zhǔn)刻度：（）

水浸法探傷時(shí)，為了將水層距離移到示波屏外，以增大工件顯示范圍，此時(shí)可調(diào)節(jié)儀器上的：（）

接近探測(cè)面并與其平行的缺陷，用下列哪種探頭檢出效果最佳：（）

進(jìn)行表面波探傷時(shí)，如有信號(hào)顯示，則表明：（）

水中的縱波聲速約為鋼或鋁中縱波聲速的四之一，因此水浸法垂直探傷的水層距離最小應(yīng)為：（）

水浸探傷中，當(dāng)探頭垂直探測(cè)面時(shí)，則：（）

對(duì)一個(gè)缺陷回波用對(duì)比試塊中的平底孔作高度比較，其中一個(gè)試塊的深度與缺陷深度相同，直徑為4mm的平底孔回波高度等于缺陷回波，則缺陷當(dāng)量的大小相當(dāng)于：（）

任何一種超聲波探傷方法中，正確地解釋和評(píng)價(jià)缺陷回波都是很重要的，通常使用的評(píng)價(jià)缺陷尺寸的方法有：（）

儀器測(cè)距標(biāo)尺滿刻度已校準(zhǔn)為200mm（鋼），如缺陷回波前沿顯示于刻度3.5上，則該缺陷的深度為：（）

為了測(cè)定缺陷深度，必須校正儀器測(cè)距，當(dāng)示波屏上水平刻度標(biāo)尺滿刻度（10）代表深度距離200mm鋼時(shí)，則厚度為50mm的鋼板的第一次和第二次底面回波前沿應(yīng)對(duì)準(zhǔn)刻度：（）

水浸法探傷時(shí)，為了將水層距離移到示波屏外，以增大工件顯示范圍，此時(shí)可調(diào)節(jié)儀器上的：（）

接近探測(cè)面并與其平行的缺陷，用下列哪種探頭檢出效果最佳：（）

進(jìn)行表面波探傷時(shí)，如有信號(hào)顯示，則表明：（）

水中的縱波聲速約為鋼或鋁中縱波聲速的四之一，因此水浸法垂直探傷的水層距離最小應(yīng)為：（）

水浸探傷中，當(dāng)探頭垂直探測(cè)面時(shí)，則：（）