通用儀器對焊補層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對靈敏度，以最大回波顯示的刻度來確定（）。

垂直法探傷時，對要求不太高的工件常采用局部法進行掃查，局部法掃查一般分為（）。

探傷工藝流程中探傷技術規(guī)范主要指的是（）

垂直法局部掃查即探頭在整個面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。

當脫碳層或顯微組織初檢結果不合格時，應在（）兩支鋼軌上取樣復驗，如兩個復驗樣的復驗結果都符合要求，則該批其余的鋼軌可以驗收。

耦合劑應選擇容易附著在試件的表面上，有足夠的浸潤性以排除（）之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。

探傷中為了保證工件的整個被檢部位有足夠的聲束覆蓋，探頭掃查線的相鄰距離應小于探頭的有效直徑，應有探頭寬度（）的重疊。

由于各種試件的結構、質量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個面，甚至只有一個可探測面。

根據(jù)接頭鋼軌下顎裂紋形成的原因，可知其具有從（）逐步擴展的特點。

使用雙探頭掃查時，如盲目改變掃查方向，將會導致（）。