垂直法局部掃查即探頭在整個面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。

探傷工技師對設(shè)備調(diào)整中的（）的相關(guān)知識應(yīng)了解。

核對軌頭剝離層下的傷損一般采用（）。

根據(jù)接頭鋼軌下顎裂紋形成的原因，可知其具有從（）逐步擴(kuò)展的特點。

垂直法探傷時，對要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查，局部法掃查一般分為（）。

剝離層下核傷可采用軌顎法進(jìn)行校對，用軌顎校對法校對時，需在鋼軌表面校對的靈敏度的基礎(chǔ)上增加（）。

探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對受檢工件的（）做好記錄。

探傷中如遇焊補(bǔ)層下異?；夭刹扇。ǎ┑确椒ㄟM(jìn)行校對。

使用雙探頭掃查時，如盲目改變掃查方向，將會導(dǎo)致（）。

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對探傷有利。