判斷題晶片越厚頻率越低。
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缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
儀器水平線性影響()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
單探頭法容易檢出()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題