A.靈敏度
B.動(dòng)態(tài)范圍
C.噪聲水平
D.水平線(xiàn)性
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.工件的厚度
B.探頭的長(zhǎng)度與寬度的比值
C.斜探頭入射點(diǎn)至反射點(diǎn)的水平距離與相應(yīng)深度的比值
D.入射點(diǎn)至反射點(diǎn)的距離
A.4倍
B.6dB
C.12dB
D.9dB
A.3倍
B.12dB
C.24dB
D.以上三個(gè)答案都不對(duì)
大平底的反射聲壓公式為(),平底孔的反射聲壓公式為(),球孔的反射聲壓公式為(),長(zhǎng)橫通的反射聲壓公式為()。
式中d——橫通孔或球孔直徑。
As——晶片面積。
S——平底孔面積。
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
超聲波儀時(shí)基線(xiàn)的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
單探頭法容易檢出()。