A.分割式探頭
B.提高探傷靈敏度
C.增大晶片直徑
D.多加耦合機(jī)油
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A.探傷時,在無缺陷部位必須保證底波出現(xiàn),并達(dá)到一定高度
B.無底波出現(xiàn),但缺陷波也末見到,則可斷定鋼板合格
C.底波衰減嚴(yán)重,雖無缺陷波,也不能當(dāng)成成品
D.只有缺陷波而無底波,說明缺陷面積大于聲束截面
A.必須保證可以順利進(jìn)行探測
B.清除銹斑和污物
C.表面應(yīng)達(dá)到軋制工藝所達(dá)到的平整度
D.上述條件都應(yīng)具備
A.缺陷越大,AVG曲線越適用
B.越接近探頭的區(qū)域,AVG曲線越準(zhǔn)確
C.從AVG曲線上確定的缺陷當(dāng)量與實際缺陷完全一致
D.在AVG曲線上,由于探頭附近的種種干擾,限制了這一距離內(nèi)的缺陷回波的辯認(rèn)或評定, 因而存在最小可測距離的限制
A.缺陷自身的形狀與人工缺陷不同
B.缺陷的方向有隨機(jī)性
C.缺陷的表面狀態(tài)及組成介質(zhì)與人工缺陷不同
D.上述原因全有
A.螢光屏上剛剛顯示出來
B.回波高度飽和
C.螢光屏滿高度的50%~80%
D.以上全都可以
最新試題
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。