A.一部分被界面反射
B.其余部分透過界面
C.傳播方向改變和發(fā)生波型轉(zhuǎn)換
D.上述現(xiàn)象都會(huì)發(fā)生
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A.電能變成機(jī)械能
B.機(jī)械能變成電能
C.A與B二者兼有
D.以上全沒有
A.聲阻抗=波長(zhǎng)×密度
B.聲阻抗=頻率×密度
C.聲阻抗=聲速×密度
D.聲阻抗=波長(zhǎng)×頻率
A.
B.
C.
D.
A.縱波
B.表面波
C.橫波
D.板波
A.縱波
B.表面波
C.橫波
D.板波
最新試題
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。