A.Φ5mm,2.5MHz
B.Φ6mm,5MHz
C.Φ5mm,5MHz
D.Φ8mm,2.5MHz
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.減少
B.保持不變
C.增大
D.隨波長均勻變化
A.近場區(qū)
B.遠(yuǎn)場區(qū)
C.超聲場
A.sinθ=直徑平方/4倍波長
B.sinθ×直徑=頻率×波長
C.sinθ=頻率×波長
D.sin(θ/2)=1.22波長/直徑
A.減少
B.保持不變
C.增大
D.隨波長均勻變化
A.光電效應(yīng)
B.康普頓效應(yīng)
C.壓電效應(yīng)
D.熱效應(yīng)
最新試題
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
單探頭法容易檢出()。
儀器水平線性影響()。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。