A.表面波法
B.斜射法
C.穿透法
D.直射法
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A.直射法
B.斜射法
C.表面波法
D.上述三種都不對(duì)
A.縱波
B.切變波
C.橫波
D.上述三種的穿透力都相同
A.折射
B.擴(kuò)散
C.角度調(diào)整
D.反射
A.發(fā)散
B.擴(kuò)散
C.角度調(diào)整
D.反射
A.脈沖寬度
B.脈沖幅度
C.脈沖形狀
D.反射
最新試題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
儀器水平線性影響()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
()是影響缺陷定量的因素。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。