最小二乘法預(yù)測(cè)模型包括（）、（）和（）。

（）應(yīng)用于一次實(shí)驗(yàn)有多個(gè)可能結(jié)果的情況。

（）和（）是統(tǒng)計(jì)推斷是的兩個(gè)組成部分，它們都是利用樣本對(duì)總體進(jìn)行某種推斷。

加權(quán)指數(shù)按照賦予權(quán)重的方式不同分為（）和（）。

卡方檢驗(yàn)通常被用在（）、（）。

（）用于方差分析、協(xié)方差分析和回歸分析等。

指數(shù)按照計(jì)入指數(shù)的項(xiàng)目數(shù)目的差異分為（）和（）；按照編制方法不同分為（）和（）；按照反映內(nèi)容的差異分為（）和（）；按照對(duì)比場(chǎng)合的差異分為（）和（）。

當(dāng)檢驗(yàn)?zāi)撑a(chǎn)品質(zhì)量時(shí)，從這批產(chǎn)品中隨機(jī)每次抽取一件，共抽n次，而抽出每一件后均不放回到這批產(chǎn)品中去。那么共抽取n件產(chǎn)品試驗(yàn)中恰好有k件不合格品的概率服從（）。

假設(shè)檢驗(yàn)中的兩類錯(cuò)誤為（）和（） 。對(duì)于一定的樣本量n，（）同時(shí)做到減小犯這兩種錯(cuò)誤的概率。

許多電子產(chǎn)品的壽命分布一般服從（）。它在（）研究中是最常用的一種分布形式。