軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)，下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是（）

在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。

下面對(duì)于開發(fā)過(guò)程描述正確的是（）

軟件評(píng)審的技術(shù)不包括（）

敏捷開發(fā)模型不適用于大型開發(fā)項(xiàng)目。

下列測(cè)試方法中，對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是（）

軟件測(cè)試的重要性不包括下面哪一個(gè)？（）

測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但包括下面哪幾個(gè)內(nèi)容？（）

測(cè)試優(yōu)先級(jí)中，用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)，其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。

增量模型適合適用于需求不明，設(shè)計(jì)方案有一定風(fēng)險(xiǎn)的項(xiàng)目。