A.壓電效應(yīng)
B.磁致效應(yīng)
C.膨脹效應(yīng)
D.電磁感應(yīng)
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A.粘度
B.表面張力
C.潤(rùn)濕能力
D.不由以上任何一種性能單獨(dú)決定
A.滲透液的粘性
B.毛細(xì)管作用
C.滲透液的化學(xué)作用
D.滲透液的重量
A.非鐵磁性材料的近表面缺陷
B.非多孔性材料的近表面缺陷
C.非多孔性材料的表面和近表面缺陷
D.非多孔性材料的表面缺陷
A.易于看出微小的痕跡
B.可用于經(jīng)過陽(yáng)極化處理和上色的表面
C.粗糙的表面對(duì)其影響較小
D.不需特殊光源
A.著色滲透劑
B.熒光滲透劑
C.以上均可
最新試題
爬波在自由表面的位移有垂直分量，但不是純粹的表面波。
水浸式探頭主要特點(diǎn)是探頭與工件直接接觸，且探頭部分或全部門浸入耦合液中。
檢測(cè)曲面工件時(shí)，探頭與工件接觸有兩種情況，一是平面與曲面接觸，另一種是將探頭斜楔磨成曲面，探頭與工件曲面接觸。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷檢出率高，超聲波束覆蓋區(qū)域大，缺陷高度測(cè)量精確，實(shí)時(shí)成像，快速分析。
在檢測(cè)晶粒粗大和大型工件時(shí)，應(yīng)測(cè)定材料的衰減系數(shù)，計(jì)算時(shí)應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。
對(duì)于橫波斜探頭而言，不同K值的探頭的靈敏度不同，因此探頭K值偏差也會(huì)影響缺陷的定量。
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過一段液體后再進(jìn)入試件的檢測(cè)的方法。
儀器時(shí)基線調(diào)節(jié)比例時(shí)，若回波前沿沒有對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn)，會(huì)使缺陷定位誤差增加。
衍射時(shí)差法探傷，當(dāng)有缺陷存在時(shí)，在直通波和底面反射波之間，接收探頭會(huì)接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測(cè)量，測(cè)試時(shí)儀器抑制置“零”或“開”位，必要時(shí)可加匹配線圈。