A.滲透液的粘性
B.毛細(xì)管作用
C.滲透液的化學(xué)作用
D.滲透液的重量
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A.非鐵磁性材料的近表面缺陷
B.非多孔性材料的近表面缺陷
C.非多孔性材料的表面和近表面缺陷
D.非多孔性材料的表面缺陷
A.易于看出微小的痕跡
B.可用于經(jīng)過陽極化處理和上色的表面
C.粗糙的表面對其影響較小
D.不需特殊光源
A.著色滲透劑
B.熒光滲透劑
C.以上均可
A.深而窄的缺陷
B.深的麻點(diǎn)
C.淺而寬的缺陷
D.以上都是
A.減小
B.增大
C.不變
D.以上都有可能
最新試題
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
衍射時(shí)差法探傷,當(dāng)有缺陷存在時(shí),在直通波和底面反射波之間,接收探頭會接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。
由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時(shí),接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。
水浸式探頭主要特點(diǎn)是探頭與工件直接接觸,且探頭部分或全部門浸入耦合液中。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。
儀器時(shí)基線比例一般在試塊上調(diào)節(jié),當(dāng)工件與試塊的聲速不同時(shí),儀器的時(shí)基線比例發(fā)生變化,影響缺陷定位精度。
檢測曲面工件時(shí),探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。
由于超聲波對進(jìn)入面的表面粗糙度、入射超聲束的方向等有一定的要求,必要時(shí)應(yīng)通過增添專門的工序,采用經(jīng)批準(zhǔn)的加工方法準(zhǔn)備超聲波進(jìn)入面。
對于比正常縱波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。
在檢測晶粒粗大和大型工件時(shí),應(yīng)測定材料的衰減系數(shù),計(jì)算時(shí)應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。