單項選擇題單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出（）
A.近場干擾
B.材質(zhì)衰減影響
C.存在盲區(qū)
D.聲耦合效率低
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1.單項選擇題與透射法相比，以下選項哪種是反射法的優(yōu)點（）
A.靈敏度高
B.盲區(qū)小
C.適用于衰減較大的材料
D.以上都是
2.單項選擇題與透射法相比，以下哪種是反射法的優(yōu)點（）
A.盲區(qū)小
B.可對缺陷精確定位
C.適用于薄板件
D.以上都是
3.單項選擇題與透射法相比，以下哪些選項是反射法的缺點（）
A.不利于檢測衰減較大的材料
B.不利于缺陷的精確定位
C.不利于小缺陷的檢測
D.以上都是
4.單項選擇題與反射法相比，以下四個選項哪種是透射法的優(yōu)點（）
A.可對缺陷精確定位
B.檢測靈敏度高
C.適用于薄板件
D.以上都是
5.單項選擇題與反射法相比，以下哪種是透射法的優(yōu)點（）
A.可對缺陷精確定位
B.盲區(qū)小
C.操作方便
D.以上都是
最新試題
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做（）。
題型：單項選擇題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
題型：單項選擇題
單探頭法容易檢出（）。
題型：單項選擇題
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型：單項選擇題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標準來確定。
題型：單項選擇題
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。
題型：單項選擇題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
題型：單項選擇題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。
題型：單項選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
題型：單項選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
題型：單項選擇題