A.缺陷深度
B.信號脈沖的長度
C.探頭中心間距
D.晶片尺寸
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A.嚴(yán)重影響缺陷高度的測量精度
B.嚴(yán)重影響V形坡口根部缺陷的檢出
C.只在非平行掃查中存在
D.只在平行掃查中存在
A.隨探頭折射角減小而減小,隨底面焊縫寬度的增大而增大
B.隨探頭折射角減小而增大,隨底面焊縫寬度增大而增大
C.隨探頭折射角減小而減小,隨探頭脈沖寬度減小而減小
D.隨探頭折射角減小而增大,隨探頭脈沖寬度減小而增大
A.探頭脈沖周期減少可以減小直通波盲區(qū)
B.如果PCS減小,則直通波盲區(qū)減小
C.增加探頭頻率可以減小直通波盲區(qū)
D.減小探頭晶片尺寸可以減小直通波盲區(qū)
A.近表面深度測量,時間上一個很小的誤差會給深度帶來很大的誤差
B.近表面深度測量,深度上一個很小的誤差會給時間帶來很大的誤差
C.減小探頭中心間距可以改善近表面區(qū)域的分辨力
D.增加探頭頻率可以改善近表面區(qū)域的分辨力
A.近表面深度分辨力不高
B.近表面信號淹沒在直通波內(nèi)導(dǎo)致漏檢
C.在進(jìn)行非平行掃查時底面存在盲區(qū)
D.在進(jìn)行平行掃查是底面存在盲區(qū)
最新試題
下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項是()
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
通常所謂20KV的X射線是指()
對于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時是不會產(chǎn)生特征X射線的。
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
探頭的分辨力()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測的是()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。