A.單純的正弦波
B.有多種頻率成分的正弦波疊加而成的機械波
C.單純的余弦波
D.以上都可能
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A.波幅將增加或降低為原波高的1倍;
B.波幅將增加或降低為原波高的2倍;
C.波幅將增加或降低為原波高的3倍;
D.波幅將增加或降低為原波高的4倍。
A.距離幅度特征、頻率響應、相對靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.距離幅度特征、頻率響應、相對靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.距離幅度特征、頻率響應、相對靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.相對靈敏度、時間域響應、噪聲電平
B.聲軸偏斜角、聲束擴展特征、距離幅度特征
C.頻率響應、分辨力、入射點或折射角
D.以上都是
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
儀器水平線性影響()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
()是影響缺陷定量的因素。