接收電路對探傷儀的垂直線性、動態(tài)范圍、探傷靈敏度、分辨率、等重要技術(shù)指標(biāo)有很大影響,它直接影響到缺陷的檢出能力。
解:根據(jù)公式T=Nt/f得 T=Nt/f=2/2.5=0.8mm 該晶片的厚度為0.8mm