A.接觸法檢測(cè)
B.水浸法檢測(cè)
C.橫波軸向掃查檢測(cè)
D.橫波周向掃查檢測(cè)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.停影時(shí)間
B.顯影溫度
C.顯影液配方
D.顯影時(shí)間
A.反射體回波高度
B.距離
C.缺陷位置
D.缺陷大小
A.調(diào)整檢測(cè)靈敏度
B.比較缺陷大小
C.缺陷當(dāng)量
D.根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)缺陷評(píng)級(jí)
A.非極性基一端親油朝向油中
B.非極性基一端親水朝向水中
C.極性基一端親油朝向油中
D.極性基一端親水朝向水中
A.油基滲透溶劑
B.水基滲透溶劑
C.熒光染料
D.潤(rùn)滑劑
最新試題
屬于γ射線(xiàn)探傷設(shè)備的操作故障有（）。
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有（）。
磁性成像可分為磁場(chǎng)成像和磁性成像，對(duì)其描述正確的有（）。
滲透檢測(cè)焊縫，對(duì)焊縫及熱影響區(qū)表面進(jìn)行清理，可以采用（）。
底片靈敏度的檢查內(nèi)容包括像質(zhì)計(jì)（）要達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。
板波的類(lèi)型有（）。
當(dāng)障礙物尺寸Df< < 波長(zhǎng)λ時(shí)，會(huì)出現(xiàn)以下（）等現(xiàn)象。
用縱波直探頭確定缺陷平面位置時(shí)需要考慮的問(wèn)題有（）。
定影液在使用過(guò)程中定影劑不斷消耗，造成（），使定影速度減慢，所需的定影時(shí)間越來(lái)越長(zhǎng)，此現(xiàn)象稱(chēng)為定影液的老化。
表面活性劑分子在水或水溶液表面的吸附近于飽和時(shí)，水或水溶液的極性表面在很大程度上就被表面活性劑分子覆蓋，這時(shí)水或水溶液的（）。