A.從直通波之前一點(diǎn)點(diǎn)到剛剛超過底面反射縱波信號(hào)處
B.從直通波之后一點(diǎn)點(diǎn)到剛剛超過底面反射縱波信號(hào)處
C.從直通波之前一點(diǎn)點(diǎn)到剛剛超過第一種底面反射變型波處
D.從直通波之后一點(diǎn)點(diǎn)到剛剛超過第一種底面反射變型波處
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你可能感興趣的試題
A.焊縫余高的寬度
B.越大越好
C.越小越好
D.通過計(jì)算和工件厚度
A.底面波形轉(zhuǎn)換信號(hào)
B.直通波信號(hào)
C.起始信號(hào)
D.底面的反射縱波信號(hào)
A.儀器合格證書
B.直通波的到達(dá)時(shí)間
C.直通波和底面波相位變化
D.B和C都正確
A.12dB
B.18dB
C.24dB
D.30dB
A.設(shè)置的增益過低
B.設(shè)置的增益過高
C.A掃描參數(shù)設(shè)置出錯(cuò)
D.PCS計(jì)算出錯(cuò)
最新試題
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
使用變型波檢測的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
探頭的分辨力()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
對于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來,最主要的是決定于()
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